Generarea Automată a Modelelor de Test
Generarea Automată a Modelelor de Test (ATPG) reprezintă crearea automatizată de vectori de test care detectează defectele de fabricație în circuitele digitale. Introdusă de Roth în 1966, ATPG găsește sistematic intrări care fac defectele de tip „stuck-at” observabile la ieșiri, permițând o detectare cuprinzătoare a erorilor. ATPG este critică pentru fabricarea semiconductoarelor: asigurarea unei acoperiri ridicate a testelor garantează că doar cipurile funcționale sunt livrate și identifică problemele procesului de fabricație.
Citește metoda completă
Autentifică-te cu un cont gratuit pentru a citi această secțiune.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Surse
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Cum se citează această pagină
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/ro/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Sinteza logicăInginerie electrică↔ compare
- Variația Procesului Monte CarloInginerie electrică↔ compare
- Analiză Statică de TimpInginerie electrică↔ compare
Citat de
Ai observat o problemă pe această pagină? Raportează sau sugerează o corectură →