Scholar
Gate
Assistent
Alle fagfelt
▾
NO ▾
Om
Reference
Spørsmål og design
Utvalg og måling
Analyse
Kausalitet og evidens
Rapportering og etikk
Hjem
/
Forfatter
Kapetanios, Shin, and Snell
Metoder tilskrevet denne forfatteren.
1 metode
Økonometri
1
Nonlinear ADF Unit Root Test
2003