SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) is een niet-parametrische methode voor het detecteren van differentiële itemfunctionering (DIF) en differentiële testfunctionering (DTF), ontwikkeld door Shealy en Stout (1993). In tegenstelling tot parametrische benaderingen, veronderstelt SIBTEST geen specifiek itemresponsmodel en test het direct of groepen verschillen in hun waarschijnlijkheid van correcte antwoorden bij gelijke niveaus van algehele bekwaamheid.
Lees de volledige methode
Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Bronnen
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
Deze pagina citeren
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/nl/psychometrics/sibtest
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Cognitive Diagnostic Computerized Adaptive TestingPsychometrie↔ compare
- DINA-modelPsychometrie↔ compare
- DINO-modelPsychometrie↔ compare
- NoodzakelijkheidsanalysePsychometrie↔ compare
- Rule Space MethodologiePsychometrie↔ compare
Een fout op deze pagina gezien? Meld het of stel een correctie voor →