Monte Carlo Procesvariatie
Monte Carlo Procesvariatie-analyse kwantificeert de impact van fabricageonzekerheden op de circuitprestaties met behulp van statistische steekproeven. Naarmate halfgeleidertechnologie schaalt, creëren procesvariaties (poortlengte, oxidiedikte, doteringsfluctuaties) aanzienlijke onzekerheden in vertraging, vermogen en lekkage. Monte Carlo-methoden bemonsteren de willekeurige variatieruimte, waardoor statistische karakterisering van opbrengst, timingmarges en betrouwbaarheid mogelijk wordt. Essentieel voor moderne technologieknooppunten.
Lees de volledige methode
Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Bronnen
- Fishman, G. S. (1996). Monte Carlo: Concepts, Algorithms, and Applications. Springer-Verlag. DOI: 10.1007/978-1-4757-2553-7 ↗
- Nassif, S. R. (2003). Modeling and analysis of manufacturing variations. In Proc. CICC (pp. 223-228). IEEE. DOI: 10.1109/cicc.2001.929760 ↗
- Agarwal, A., Blaauw, D., Zolotov, V., & Sundareswaran, S. (2005). Statistical timing analysis with dual-Vth devices. IEEE Transactions on VLSI Systems, 13(3), 319-328. link ↗
Deze pagina citeren
ScholarGate. (2026, June 3). Monte Carlo Analysis of Semiconductor Process Variations. ScholarGate. https://scholargate.app/nl/electrical-engineering/monte-carlo-process-variation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Automatische TestpatroongeneratieElektrotechniek↔ compare
- Logische SyntheseElektrotechniek↔ compare
- Statische Tijdruimte-AnalyseElektrotechniek↔ compare
Geciteerd door
Een fout op deze pagina gezien? Meld het of stel een correctie voor →