Automatische Testpatroongeneratie
Automatische Testpatroongeneratie (ATPG) is het geautomatiseerd creëren van testvectoren die fabricagefouten in digitale schakelingen detecteren. Geïntroduceerd door Roth in 1966, vindt ATPG systematisch ingangen die 'stuck-at'-fouten observeerbaar maken aan de uitgangen, wat een uitgebreide foutdetectie mogelijk maakt. ATPG is cruciaal voor de productie van halfgeleiders: het waarborgen van een hoge testdekking zorgt ervoor dat alleen goede chips worden geleverd en identificeert problemen in het fabricageproces.
Lees de volledige methode
Log in met een gratis account om dit onderdeel te lezen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Bronnen
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Deze pagina citeren
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/nl/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Logische SyntheseElektrotechniek↔ compare
- Monte Carlo ProcesvariatieElektrotechniek↔ compare
- Statische Tijdruimte-AnalyseElektrotechniek↔ compare
Geciteerd door
Een fout op deze pagina gezien? Meld het of stel een correctie voor →