Spektroskopi Fotoelektron Sinar-X
Spektroskopi Fotoelektron Sinar-X (XPS), juga dikenali sebagai Spektroskopi Elektron untuk Analisis Kimia (ESCA), ialah teknik analitik sensitif permukaan yang mengukur tenaga kinetik fotoelektron yang terlepas daripada bahan oleh sinar-X bertenaga tinggi. Dibangunkan oleh Kai Siegbahn pada tahun 1967, XPS menentukan komposisi unsur, keadaan pengoksidaan kimia, dan ikatan kimia dalam lingkungan ~10 nanometer permukaan. Ia amat diperlukan dalam sains bahan untuk pencirian permukaan, kajian kakisan, analisis oksida, dan kimia antara muka.
Baca kaedah sepenuhnya
Log masuk dengan akaun percuma untuk membaca bahagian ini.
Peta kaedah
Kejiranan kaedah berkaitan — pilih satu nod untuk meneroka.
Sumber
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Cara memetik halaman ini
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/ms/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Kaedah yang mana?
Letakkan kaedah ini di sebelah kaedah yang paling rapat dengannya dan baca secara bersebelahan — perpustakaan menyusun buku di atas meja; pilihan terletak pada anda.
- Spektroskopi Sinar-X Tenaga TersebarSains Bahan↔ banding
- Penyahsuaian RamanSains Bahan↔ banding
- Pancaran Elektron Kawasan TerpilihSains Bahan↔ banding
Dirujuk oleh
Similar methods
Terjumpa masalah pada halaman ini? Laporkan atau cadangkan pembetulan →