Penapisan Rietveld XRD
Penapisan Rietveld XRD ialah satu kaedah untuk mengekstrak maklumat struktur kristal terperinci daripada data resapan serbuk dengan membandingkan corak resapan yang diperhatikan dan dikira melalui penapisan kuasa dua terkecil. Dibangunkan oleh Hugo Rietveld pada tahun 1969, teknik ini membolehkan penentuan kedudukan atom, ketepatan, parameter haba, dan pecahan fasa secara langsung daripada data serbuk tanpa memerlukan hablur tunggal. Ia merupakan pendekatan standard dalam pencirian bahan untuk analisis struktur, pengenalpastian fasa, dan pengkuantitian.
Baca kaedah sepenuhnya
Log masuk dengan akaun percuma untuk membaca bahagian ini.
Peta kaedah
Kejiranan kaedah berkaitan — pilih satu nod untuk meneroka.
Sumber
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
Cara memetik halaman ini
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/ms/materials-science/xrd-rietveld-refinement
Kaedah yang mana?
Letakkan kaedah ini di sebelah kaedah yang paling rapat dengannya dan baca secara bersebelahan — perpustakaan menyusun buku di atas meja; pilihan terletak pada anda.
- CALPHADSains Bahan↔ banding
- Pancaran Elektron Kawasan TerpilihSains Bahan↔ banding
- Spektroskopi Fotoelektron Sinar-XSains Bahan↔ banding
Dirujuk oleh
Terjumpa masalah pada halaman ini? Laporkan atau cadangkan pembetulan →