Mikroskopi Daya Atom
Mikroskopi Daya Atom (AFM) ialah teknik prob imbasan yang mengukur topografi permukaan nanoskala dan sifat mekanikal dengan memantau interaksi antara hujung kantiliver tajam dan permukaan sampel. Dicipta oleh Gerd Binnig pada tahun 1986 sebagai lanjutan mikroskopi terowong imbasan, AFM tidak memerlukan pengaliran elektrik mahupun operasi vakum, menjadikannya boleh digunakan pada hampir semua bahan. Ia menyediakan peta topografi tiga dimensi dengan resolusi menegak sub-nanometer dan resolusi sisi menghampiri nanometer, bersama-sama pengukuran serentak sifat mekanikal, elektrikal, dan kimia.
Baca kaedah sepenuhnya
Log masuk dengan akaun percuma untuk membaca bahagian ini.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Sumber
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
Cara memetik halaman ini
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/ms/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Spektroskopi Sinar-X Tenaga TersebarSains Bahan↔ compare
- NanoindentasiSains Bahan↔ compare
- Pancaran Elektron Kawasan TerpilihSains Bahan↔ compare
Dirujuk oleh
Terjumpa masalah pada halaman ini? Laporkan atau cadangkan pembetulan →