Penjanaan Corak Ujian Automatik
Penjanaan Corak Ujian Automatik (ATPG) ialah penciptaan automatik vektor ujian yang mengesan kecacatan pembuatan dalam litar digital. Dipelopori oleh Roth pada tahun 1966, ATPG secara sistematik mencari input yang menjadikan kegagalan 'stuck-at' boleh diperhatikan pada output, membolehkan pengesanan kegagalan yang komprehensif. ATPG kritikal untuk pembuatan semikonduktor: membolehkan liputan ujian yang tinggi memastikan hanya cip yang baik dihantar dan mengenal pasti isu proses pembuatan.
Baca kaedah sepenuhnya
Log masuk dengan akaun percuma untuk membaca bahagian ini.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Sumber
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Cara memetik halaman ini
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/ms/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Sintesis LogikKejuruteraan Elektrik↔ compare
- Proses Variasi Monte CarloKejuruteraan Elektrik↔ compare
- Analisis Pemasaan StatikKejuruteraan Elektrik↔ compare
Dirujuk oleh
Terjumpa masalah pada halaman ini? Laporkan atau cadangkan pembetulan →