ScholarGate
Pembantu
Hypothesis testPanel unit-root tests (2nd gen)

Ujian CIPS — Ujian Punca Unit Panel Teragregat Keratan Rentas

Ujian CIPS, diperkenalkan oleh Pesaran (2007), ialah ujian punca unit panel generasi kedua yang direka untuk panel di mana unit keratan rentas berkongsi faktor lazim yang tidak dapat diperhatikan yang mendorong kebergantungan keratan rentas. Dengan menambahkan min keratan rentas dan kelewatan mereka pada setiap regresi ADF individu, ujian CIPS mengambil kira kebergantungan ini dan menghasilkan inferens yang boleh dipercayai di mana ujian generasi pertama seperti ujian IPS asal gagal. Ia digunakan secara meluas dalam panel makroekonomi dan kewangan di mana kejutan merebak merentasi negara atau rantau.

Terapkan dengan EconMindTidak lama lagiVideoTidak lama lagiDownload slides

Baca kaedah sepenuhnya

Ahli sahaja

Log masuk dengan akaun percuma untuk membaca bahagian ini.

Log masuk

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Sumber

  1. Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951

Cara memetik halaman ini

ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/ms/econometrics/cips-test

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Dirujuk oleh

ScholarGateCIPS Test (Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test). Dicapai 2026-06-15 daripada https://scholargate.app/ms/econometrics/cips-test · Set data: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026