Ujian CIPS — Ujian Punca Unit Panel Teragregat Keratan Rentas
Ujian CIPS, diperkenalkan oleh Pesaran (2007), ialah ujian punca unit panel generasi kedua yang direka untuk panel di mana unit keratan rentas berkongsi faktor lazim yang tidak dapat diperhatikan yang mendorong kebergantungan keratan rentas. Dengan menambahkan min keratan rentas dan kelewatan mereka pada setiap regresi ADF individu, ujian CIPS mengambil kira kebergantungan ini dan menghasilkan inferens yang boleh dipercayai di mana ujian generasi pertama seperti ujian IPS asal gagal. Ia digunakan secara meluas dalam panel makroekonomi dan kewangan di mana kejutan merebak merentasi negara atau rantau.
Baca kaedah sepenuhnya
Log masuk dengan akaun percuma untuk membaca bahagian ini.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Sumber
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
Cara memetik halaman ini
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/ms/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Ujian Cross-sectionally Augmented Dickey-Fuller (CADF)Ekonometrik↔ compare
- Ujian Unit-Root Panel Im-Pesaran-Shin (IPS)Ekonometrik↔ compare
- Ujian PANIC: Analisis Punca Unit Panel dengan Penguraian Faktor LazimEkonometrik↔ compare
Dirujuk oleh
Terjumpa masalah pada halaman ini? Laporkan atau cadangkan pembetulan →