Ujian Unit-Root Panel Im-Pesaran-Shin (IPS)
Ujian IPS, yang diperkenalkan oleh Im, Pesaran, dan Shin pada tahun 2003, ialah ujian unit-root panel yang direka untuk panel heterogen di mana pekali autoregresif dibenarkan berbeza merentasi unit rentasan. Ia merata-ratakan statistik-t Augmented Dickey-Fuller (ADF) individu dan membina statistik piawai dengan taburan had piawai normal, menjadikannya salah satu ujian unit-root panel generasi pertama yang paling meluas digunakan dalam ekonometrik gunaan.
Baca kaedah sepenuhnya
Log masuk dengan akaun percuma untuk membaca bahagian ini.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Sumber
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Cara memetik halaman ini
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/ms/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Ujian Punca-Unit Panel BreitungEkonometrik↔ compare
- Ujian CIPSEkonometrik↔ compare
- Ujian Unit-Akar Panel Levin-Lin-Chu (LLC)Ekonometrik↔ compare
Dirujuk oleh
Terjumpa masalah pada halaman ini? Laporkan atau cadangkan pembetulan →