Automātiska testēšanas paraugu ģenerēšana
Automātiska testēšanas paraugu ģenerēšana (ATPG) ir automātiska testēšanas vektoru izveide, kas nosaka ražošanas defektus digitālās ķēdēs. ATPG, ko 1966. gadā aizsāka Rotss, sistemātiski atrod ievades, kas padara novēršamus uzkavēšanās defektus izvados, nodrošinot visaptverošu defektu noteikšanu. ATPG ir kritiski svarīga pusvadītāju ražošanā: augsta testēšanas aptvere nodrošina, ka tiek piegādāti tikai labi mikroshēmas un tiek identificētas ražošanas procesa problēmas.
Lasīt pilno metodes aprakstu
Piesakieties ar bezmaksas kontu, lai lasītu šo sadaļu.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Avoti
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Kā citēt šo lapu
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/lv/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Loģiskā sintēzeElektrotehnika↔ compare
- Monte Carlo procesu variāciju analīzeElektrotehnika↔ compare
- Statiskā laika analīzeElektrotehnika↔ compare
Uz to atsaucas
Pamanījāt kļūdu šajā lapā? Ziņojiet vai ierosiniet labojumu →