Process / pipelineX-ray Spectroscopy
EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS)는 결정질 또는 비정질 재료 내 특정 원자 주변의 국소 기하학적 및 전자적 구조를 측정하는 싱크로트론 기반 X-선 분광 기술입니다. 1971년 Sayers, Stern, Lytle에 의해 발견된 EXAFS는 흡수단 위에서 X-선 흡수 스펙트럼의 진동을 분석하여 원자 간 거리, 배위수, 원자 환경의 무질서도를 밝혀냅니다.
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출처
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/ko/spectroscopy/exafs
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