Process / pipelineAccelerated life testing
高加速寿命試験（HALT）
高加速寿命試験（HALT）は、設計上の弱点を迅速に特定し、通常の動作条件と製品故障との間のマージンを決定するための手法です。極限的ではあるものの非破壊的なストレスプロファイル（熱、振動など）を適用することで、HALTは故障の時間を加速させ、潜在的な欠陥を数年ではなく数週間で明らかにします。1980年代以降に集中的に開発され、エレクトロニクスおよび機械システムの専門家によって洗練されたHALTは、製品開発の加速と信頼性検証において不可欠なものとなっています。
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出典
- Leis, B. N., & Stephens, D. R. (2011). Reliability methodologies for structural integrity assessment. Journal of Pressure Vessel Technology, 133(5), 051204. link ↗
- Nelson, W. B. (1990). Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses. Wiley. link ↗
- Hobbs, G. K. (1997). Physical Modeling of Electronic Products for Reliability and Shelf Life. IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology, 20(2), 82-95. link ↗
- Alfirevic, D., Callerame, F., & Roberts, G. (2011). A comprehensive overview of HALT and HASS. Proceedings of the EPTC 2011. link ↗
このページの引用方法
ScholarGate. (2026, June 3). Highly Accelerated Life Testing (HALT). ScholarGate. https://scholargate.app/ja/reliability-engineering/highly-accelerated-life-testing
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