手法証拠記録
XRD Rietveld Refinement
XRD Rietveld Refinement is a method for extracting detailed crystal structure information from powder diffraction data by comparing observed and calculated diffraction patterns through least-squares refinement. Developed by Hugo Rietveld in 1969, this technique enables determination of atomic positions, occupancies, thermal parameters, and phase fractions directly from powder data without requiring single crystals. It is the standard approach in materials characterization for structural analysis, phase identification, and quantification.
出典記録
引用は手法の出典記録からそのままコピーされています。それらからレベルごとの検証は推論されません。
X-ray Diffraction Rietveld Refinement
分類的手法記録 · process-pipeline / materials-science
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. · DOI 10.1107/S0021889869006558
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. · URL
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. · DOI 10.1016/0921-4526(93)90108-I
キュレーションされた主張
主張は証拠台帳に永続化され、それぞれが独自の評価を持っています。
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関連手法
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