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Apprendimento Metrico Auto-supervisionato

L'apprendimento metrico auto-supervisionato addestra un codificatore neurale a incorporare input in modo che elementi semanticamente simili giacciano vicini nello spazio vettoriale, utilizzando pseudo-etichette generate automaticamente invece di annotazioni umane. Combinando compiti pretesto auto-supervisionati con obiettivi metrici contrastivi o basati su triplette, produce rappresentazioni trasferibili ed efficienti in termini di etichette, applicabili al recupero, al clustering e alla classificazione few-shot.

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Fonti

  1. Chen, T., Kornblith, S., Norouzi, M., & Hinton, G. (2020). A Simple Framework for Contrastive Learning of Visual Representations. Proceedings of the 37th International Conference on Machine Learning (ICML 2020), PMLR 119, 1597–1607. link
  2. Khosla, P., Tian, Y., Wang, X., Liu, C., Krishnan, D., Isola, P., & Tian, Y. (2020). Supervised Contrastive Learning. Advances in Neural Information Processing Systems (NeurIPS 2020), 33, 18661–18673. link

Come citare questa pagina

ScholarGate. (2026, June 3). Self-supervised Metric Learning. ScholarGate. https://scholargate.app/it/machine-learning/self-supervised-metric-learning

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ScholarGateSelf-supervised Metric learning (Self-supervised Metric Learning). Consultato il 2026-06-15 da https://scholargate.app/it/machine-learning/self-supervised-metric-learning · Insieme di dati: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026