Variasi Proses Monte Carlo
Analisis Variasi Proses Monte Carlo mengkuantifikasi dampak ketidakpastian manufaktur pada kinerja sirkuit menggunakan pengambilan sampel statistik. Seiring penskalaan teknologi semikonduktor, variasi proses (panjang gerbang, ketebalan oksida, fluktuasi dopan) menciptakan ketidakpastian yang signifikan dalam penundaan, daya, dan kebocoran. Metode Monte Carlo mengambil sampel ruang variasi acak, memungkinkan karakterisasi statistik hasil (yield), margin waktu, dan keandalan. Penting untuk node teknologi modern.
Baca metode selengkapnya
Masuk dengan akun gratis untuk membaca bagian ini.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Sumber
- Fishman, G. S. (1996). Monte Carlo: Concepts, Algorithms, and Applications. Springer-Verlag. DOI: 10.1007/978-1-4757-2553-7 ↗
- Nassif, S. R. (2003). Modeling and analysis of manufacturing variations. In Proc. CICC (pp. 223-228). IEEE. DOI: 10.1109/cicc.2001.929760 ↗
- Agarwal, A., Blaauw, D., Zolotov, V., & Sundareswaran, S. (2005). Statistical timing analysis with dual-Vth devices. IEEE Transactions on VLSI Systems, 13(3), 319-328. link ↗
Cara menyitasi halaman ini
ScholarGate. (2026, June 3). Monte Carlo Analysis of Semiconductor Process Variations. ScholarGate. https://scholargate.app/id/electrical-engineering/monte-carlo-process-variation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Generasi Pola Uji OtomatisTeknik Elektro↔ compare
- Sintesis LogikaTeknik Elektro↔ compare
- Analisis Waktu StatisTeknik Elektro↔ compare
Dirujuk oleh
Menemukan masalah di halaman ini? Laporkan atau usulkan perbaikan →