Generasi Pola Uji Otomatis
Generasi Pola Uji Otomatis (ATPG) adalah pembuatan vektor uji secara otomatis yang mendeteksi cacat manufaktur pada sirkuit digital. Dipelopori oleh Roth pada tahun 1966, ATPG secara sistematis menemukan masukan yang membuat kesalahan 'stuck-at' dapat diamati di keluaran, memungkinkan deteksi kesalahan yang komprehensif. ATPG sangat penting untuk manufaktur semikonduktor: memungkinkan cakupan uji yang tinggi memastikan hanya chip yang baik yang dikirim dan mengidentifikasi masalah proses manufaktur.
Baca metode selengkapnya
Masuk dengan akun gratis untuk membaca bagian ini.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Sumber
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Cara menyitasi halaman ini
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/id/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Sintesis LogikaTeknik Elektro↔ compare
- Variasi Proses Monte CarloTeknik Elektro↔ compare
- Analisis Waktu StatisTeknik Elektro↔ compare
Dirujuk oleh
Menemukan masalah di halaman ini? Laporkan atau usulkan perbaikan →