Im-Pesaran-Shin (IPS) panel egységgyök teszt
Az Im, Pesaran és Shin által 2003-ban bevezetett Im-Pesaran-Shin (IPS) teszt egy panel egységgyök teszt, amelyet heterogén panelekre terveztek, ahol az autoregresszív együttható eltérhet a keresztmetszeti egységek között. Ez átlagolja az egyes kibővített Dickey-Fuller (ADF) t-statisztikákat, és egy standardizált statisztikát konstruál standard normális határeloszlással, így az alkalmazott ekonometriában az első generációs panel egységgyök tesztek egyik legszélesebb körben alkalmazottja.
A teljes módszer elolvasása
Jelentkezzen be ingyenes fiókkal a szakasz elolvasásához.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Források
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
Hogyan hivatkozzon erre az oldalra
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/hu/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Breitung panel egységgyök tesztÖkonometria↔ compare
- CIPS TesztÖkonometria↔ compare
- Levin-Lin-Chu (LLC) panel egységgyök tesztÖkonometria↔ compare
Hivatkozik rá
Hibát talált ezen az oldalon? Jelentse, vagy javasoljon javítást →