CIPS Teszt — Keresztmetszetileg Bővített IPS Panel Egységgyök Teszt
A Pesaran (2007) által bevezetett CIPS teszt egy másodgenerációs panel egységgyök teszt, amelyet olyan panelekhez terveztek, ahol a keresztmetszeti egységek megfiggeletlen közös faktorokat osztanak meg, amelyek keresztmetszeti függőséget indukálnak. Az egyes ADF regressziók keresztmetszeti átlagokkal és azok késleltetéseivel való kiegészítésével a CIPS teszt figyelembe veszi ezt a függőséget, és megbízható következtetéseket tesz lehetővé ott, ahol az elsőgenerációs tesztek, mint például az eredeti IPS teszt, kudarcot vallanak. Széles körben alkalmazzák makrogazdasági és pénzügyi panelekben, ahol a sokkok országokon vagy régiókon terjednek át.
A teljes módszer elolvasása
Jelentkezzen be ingyenes fiókkal a szakasz elolvasásához.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Források
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
Hogyan hivatkozzon erre az oldalra
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/hu/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- A keresztmetszetileg Bővített Dickey-Fuller (CADF) tesztÖkonometria↔ compare
- Im-Pesaran-Shin (IPS) panel egységgyök tesztÖkonometria↔ compare
- PANIC teszt: Panel egységgyök-elemzés közös faktorok dekompozíciójávalÖkonometria↔ compare
Hivatkozik rá
Hibát talált ezen az oldalon? Jelentse, vagy javasoljon javítást →