Scholar
Gate
Asistent
Sva područja
▾
HR ▾
O nama
Reference
Pitanje i nacrt
Uzorkovanje i mjerenje
Analiza
Uzročnost i dokazi
Izvještavanje i etika
Početna
/
Autor
Elhorst; Lee & Yu
Metode koje se pripisuju ovom autoru.
1 metoda
Prostorna analiza
1
Spatial Panel Model
2014