Latent structureItem Bias Detection
SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) היא שיטה לא-פרמטרית לגילוי פונקציונליות פריט דיפרנציאלית (DIF) ופונקציונליות מבחן דיפרנציאלית (DTF) שפותחה על ידי Shealy ו-Stout (1993). בניגוד לגישות פרמטריות, SIBTEST אינה מניחה מודל תגובה לפריט מסוים ובודקת ישירות האם קבוצות נבדלות בהסתברותן לתשובות נכונות ברמות שוות של יכולת כוללת.
קראו את השיטה במלואה
לחברים בלבד
התחברותהתחברו עם חשבון חינמי כדי לקרוא חלק זה.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
מקורות
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
איך לצטט עמוד זה
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/he/psychometrics/sibtest
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- מבחן אדפטיבי ממוחשב לאבחון קוגניטיביפסיכומטריה↔ compare
- מודל DINAפסיכומטריה↔ compare
- מודל DINOפסיכומטריה↔ compare
- ניתוח תנאי הכרחיפסיכומטריה↔ compare
- מתודולוגיית מרחב הכלליםפסיכומטריה↔ compare