Dossier de preuve de méthode

Automatic Test Pattern Generation

Automatic Test Pattern Generation (ATPG) is the automated creation of test vectors that detect manufacturing defects in digital circuits. Pioneered by Roth in 1966, ATPG systematically finds inputs that make stuck-at faults observable at outputs, enabling comprehensive fault detection. ATPG is critical for semiconductor manufacturing: enabling high test coverage ensures only good chips ship and identifies manufacturing process issues.

Sources recorded, not reviewed

Dossier source

Citations copiées telles quelles du dossier source de la méthode. Aucune vérification au niveau de la revendication n'en est déduite.

Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits

Dossier de méthode taxonomique · process-pipeline / electrical-engineering

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Revendications organisées

Revendications enregistrées dans le registre de preuves, chacune avec sa propre évaluation.

Pas encore de revendications organisées

Cette vue n'invente pas d'évaluation de revendication lorsque le registre n'en contient aucune.

Méthodes apparentées

Généré à partir du graphe de méthodes et présenté comme des relations suggérées par la machine — aucune revendication de preuve n'est déduite.

Same method familyLogic Synthesismachine-suggested · Relational suggestion, not evidence.Same method familyMonte Carlo Process Variationmachine-suggested · Relational suggestion, not evidence.Same method familyStatic Timing Analysismachine-suggested · Relational suggestion, not evidence.