SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) on Shealyn ja Stoutin (1993) kehittämä ei-parametrinen menetelmä differentiaalisen tehtäväntoiminnan (DIF) ja differentiaalisen testitoiminnan (DTF) havaitsemiseen. Toisin kuin parametriset lähestymistavat, SIBTEST ei oleta tiettyä tehtävänvastemallia, vaan testaa suoraan, eroavatko ryhmät oikeiden vastausten todennäköisyydessä samalla kokonaiskyvyn tasolla.
Lue koko menetelmä
Kirjaudu sisään maksuttomalla tilillä lukeaksesi tämän osion.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Lähteet
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
Näin viittaat tähän sivuun
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/fi/psychometrics/sibtest
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Kognitiivinen diagnostinen tietokoneavusteinen adaptiivinen testausPsykometriikka↔ compare
- DINA-malliPsykometriikka↔ compare
- DINO-malliPsykometriikka↔ compare
- VälttämättömyysanalyysiPsykometriikka↔ compare
- Rule Space MethodologyPsykometriikka↔ compare
Huomasitko virheen tällä sivulla? Ilmoita siitä tai ehdota korjausta →