Röntgensäteilyfotoelektronispektroskopia
Röntgensäteilyfotoelektronispektroskopia (XPS), joka tunnetaan myös nimellä elektronispektroskopia kemialliselle analyysille (ESCA), on pintasensitiivinen analyyttinen tekniikka, joka mittaa korkeaenergisten röntgensäteiden poistamien fotoelektronien liike-energiat. Kai Siegbahn kehitti vuonna 1967 XPS:n, joka määrittää alkuainekoostumuksen, kemialliset hapetusasteet ja kemialliset sidokset noin 10 nanometrin syvyydeltä pinnasta. Se on välttämätön materiaalitieteessä pintakarakterisoinnissa, korroosiotutkimuksissa, oksidien analyysissä ja rajapintakemiassa.
Lue koko menetelmä
Kirjaudu sisään maksuttomalla tilillä lukeaksesi tämän osion.
Menetelmäkartta
Lähimenetelmien naapurusto — valitse solmu tutkiaksesi.
Lähteet
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Näin viittaat tähän sivuun
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/fi/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Mikä menetelmä?
Aseta tämä menetelmä lähimpien sukulaistensa rinnalle ja lue niitä yhdessä — kirjasto asettaa teokset pöydälle; valinta on sinun.
- Energiadispersiivinen röntgenspektroskopiaMateriaalitiede↔ vertaa
- Raman-hajotuksen hajotusMateriaalitiede↔ vertaa
- Valitun alueen elektronidiffraktioMateriaalitiede↔ vertaa
Tähän viittaavat
Similar methods
Huomasitko virheen tällä sivulla? Ilmoita siitä tai ehdota korjausta →