EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) on lyhytkestoinen röntgenspektroskopiamenetelmä, joka perustuu synkrotronisäteilyyn ja mittaa minkä tahansa materiaalin, kiteisen tai amorfisen, tietyn atomin paikallista geometrista ja elektronista rakennetta. Sayersin, Sternin ja Lytlen vuonna 1971 kehittämä EXAFS paljastaa atomienväliset etäisyydet, koordinaatioluvut ja epäjärjestyksen atomiympäristössä analysoimalla röntgenabsorptiospektrin värähtelyjä absorptiokynnyksen yläpuolella.
Lue koko menetelmä
Kirjaudu sisään maksuttomalla tilillä lukeaksesi tämän osion.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Lähteet
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Näin viittaat tähän sivuun
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/fi/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Tähän viittaavat
Huomasitko virheen tällä sivulla? Ilmoita siitä tai ehdota korjausta →