Valitun alueen elektronidiffraktio
Valitun alueen elektronidiffraktio (SAED) on transmissioelektronimikroskopian kristallografinen tekniikka, jolla saadaan elektronidiffraktiokuvioita mikrometrin tai submikrometrin kokoisista kiteisistä alueista. SAED kehitettiin elektronien aaltokäyttäytymisen perusperiaatteista ja integroitiin TEM-laitteisiin 1900-luvun puoliväliin mennessä. Se mahdollistaa käänteistilan, kiderakenteen symmetrian ja virherakenteiden suoran havainnoinnin, ja sen paikkaresoluutio on parempi kuin röntgendiffraktiossa. Se on välttämätön paikallisen kiderakenteen tutkimisessa, faasien tunnistamisessa ja nanomateriaalien karakterisoinnissa.
Lue koko menetelmä
Kirjaudu sisään maksuttomalla tilillä lukeaksesi tämän osion.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Lähteet
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
Näin viittaat tähän sivuun
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/fi/materials-science/selected-area-electron-diffraction
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- AtomivoimamikroskopiaMateriaalitiede↔ compare
- Energiadispersiivinen röntgenspektroskopiaMateriaalitiede↔ compare
- XRD Rietveld-mallinnusMateriaalitiede↔ compare
Tähän viittaavat
Huomasitko virheen tällä sivulla? Ilmoita siitä tai ehdota korjausta →