Automaattinen testikuvioiden generointi
Automaattinen testikuvioiden generointi (ATPG) on automaattinen testivektorien luonti, jolla havaitaan digitaalisten piirien valmistusvirheet. Rothin vuonna 1966 edelläkävijänä kehittämä ATPG löytää järjestelmällisesti syötteitä, jotka tekevät jumittuneet viat (stuck-at faults) havaittaviksi lähdöissä, mahdollistaen kattavan vianetsinnän. ATPG on kriittinen puolijohdeteollisuudessa: korkea testikattavuus varmistaa, että vain ehjät sirut toimitetaan ja tunnistaa valmistusprosessin ongelmia.
Lue koko menetelmä
Kirjaudu sisään maksuttomalla tilillä lukeaksesi tämän osion.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Lähteet
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Näin viittaat tähän sivuun
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/fi/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- LogiikkasynteesiSähkötekniikka↔ compare
- Monte Carlo -prosessivaihteluanalyysiSähkötekniikka↔ compare
- Staattinen ajoitusanalyysiSähkötekniikka↔ compare
Tähän viittaavat
Huomasitko virheen tällä sivulla? Ilmoita siitä tai ehdota korjausta →