X-ray Photoelectron Spectroscopy
X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is a surface-sensitive analytical technique that measures the kinetic energies of photoelectrons ejected from a material by high-energy X-rays. Developed by Kai Siegbahn in 1967, XPS determines elemental composition, chemical oxidation states, and chemical bonding within ~10 nanometers of a surface. It is indispensable in materials science for surface characterization, corrosion studies, oxide analysis, and interface chemistry.
سوابق منبع
استنادات عیناً از سوابق منبع روش کپی شدهاند. هیچ تأیید در سطح ادعا از آنها استنباط نمیشود.
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. · URL
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. · URL
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. · URL
ادعاهای گزینششده
ادعاها در دفتر ثبت شواهد ذخیره شدهاند، هر کدام با ارزیابی خاص خود.
این نما در صورت عدم وجود ارزیابی ادعا در دفتر ثبت، ادعایی ابداع نمیکند.
روشهای مرتبط
از گراف روش تولید شده و به عنوان روابط پیشنهادی ماشین نمایش داده میشود — هیچ ادعای مدرکی استنباط نمیشود.