تولید خودکار الگوی آزمون
تولید خودکار الگوی آزمون (ATPG) به ایجاد خودکار بردارهای آزمون برای تشخیص عیوب تولید در مدارهای دیجیتال گفته میشود. ATPG که در سال ۱۹۶۶ توسط Roth پایهگذاری شد، به طور سیستماتیک ورودیهایی را مییابد که خطاهای حالت-بسته (stuck-at faults) را در خروجیها قابل مشاهده میکنند و امکان تشخیص جامع خطا را فراهم میآورند. ATPG برای تولید نیمههادیها حیاتی است: دستیابی به پوشش آزمون بالا تضمین میکند که تنها تراشههای سالم عرضه میشوند و مشکلات فرآیند تولید را شناسایی میکند.
مطالعهٔ کامل روش
برای خواندن این بخش با حساب رایگان وارد شوید.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
منابع
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
نحوهٔ استناد به این صفحه
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/fa/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- سنتز منطقیمهندسی برق↔ compare
- تحلیل تغییرات فرآیند مونت کارلو (Monte Carlo Process Variation)مهندسی برق↔ compare
- تحلیل زمانبندی ایستامهندسی برق↔ compare
ارجاعشده در
در این صفحه مشکلی دیدید؟ گزارش دهید یا اصلاحی پیشنهاد کنید →