EXAFS
Laiendatud röntgenikiirguse neeldumise peenstruktuur (EXAFS) on sünkrotronipõhine röntgenispektroskoopia tehnika, mis mõõdab kohalikku geomeetrilist ja elektronstruktuuri kindla aatomi ümber mis tahes materjalis, kristallilises või amorfses. Sayersi, Sterni ja Lytle'i poolt 1971. aastal avastatud EXAFS paljastab aatomitevahelised kaugused, koordinatsiooninumbrid ja korrapäratuse aatomikeskkonnas, analüüsides neeldumisäärmest kõrgemal asuva röntgenikiirguse neeldumisspektri võnkumisi.
Loe meetodi täielikku kirjeldust
Selle osa lugemiseks logi sisse tasuta kontoga.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Allikad
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Kuidas sellele lehele viidata
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/et/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Sellele viitavad
Märkasid sellel lehel viga? Teata sellest või paku parandust →