Automaatne testmustrite genereerimine
Automaatne testmustrite genereerimine (ATPG) on testivektorite automatiseeritud loomine, mis tuvastavad digitaalsete vooluahelate tootmisdefekte. Rothi poolt 1966. aastal algatatud ATPG süstemaatiliselt leiab sisendeid, mis muudavad "kinni-juures" (stuck-at) tõrked väljundites jälgitavaks, võimaldades igakülgset tõrgete tuvastamist. ATPG on pooljuhtide tootmisel kriitilise tähtsusega: kõrge testikatvuse tagamine kindlustab, et tarnitakse ainult töökorras kiibid ja tuvastatakse tootmisprotsessi probleemid.
Loe meetodi täielikku kirjeldust
Selle osa lugemiseks logi sisse tasuta kontoga.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Allikad
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Kuidas sellele lehele viidata
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/et/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Loogika sünteesElektrotehnika↔ compare
- Monte Carlo protsessivariatsiooni analüüsElektrotehnika↔ compare
- Staatiline ajaline analüüsElektrotehnika↔ compare
Sellele viitavad
Märkasid sellel lehel viga? Teata sellest või paku parandust →