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Aprendizaje Semi-supervisado de Pocas Muestras

El Aprendizaje Semi-supervisado de Pocas Muestras (SS-FSL, por sus siglas en inglés) entrena modelos para clasificar nuevas clases a partir de solo un puñado de ejemplos etiquetados por clase, al mismo tiempo que aprovecha un conjunto de datos no etiquetados para enriquecer las representaciones de las clases. Al combinar episodios de meta-aprendizaje con asignación de etiquetas pseudo-suaves para muestras no etiquetadas, logra una precisión notablemente mayor que los métodos puramente supervisados de pocas muestras cuando hay datos no etiquetados abundantes disponibles.

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Fuentes

  1. Ren, M., Triantafillou, E., Ravi, S., Snell, J., Swersky, K., Tenenbaum, J. B., Larochelle, H., & Zemel, R. S. (2018). Meta-learning for semi-supervised few-shot classification. In International Conference on Learning Representations (ICLR 2018). link
  2. Finn, C., Abbeel, P., & Levine, S. (2017). Model-agnostic meta-learning for fast adaptation of deep networks. In Proceedings of the 34th International Conference on Machine Learning (ICML 2017), PMLR 70, 1126–1135. link

Cómo citar esta página

ScholarGate. (2026, June 3). Semi-supervised Few-shot Learning (SS-FSL). ScholarGate. https://scholargate.app/es/machine-learning/semi-supervised-few-shot-learning

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Citado por

ScholarGateSemi-supervised Few-shot Learning (Semi-supervised Few-shot Learning (SS-FSL)). Recuperado el 2026-06-15 de https://scholargate.app/es/machine-learning/semi-supervised-few-shot-learning · Conjunto de datos: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026