Ηλεκτρονική Περίθλαση Επιλεγμένης Περιοχής
Η Ηλεκτρονική Περίθλαση Επιλεγμένης Περιοχής (Selected Area Electron Diffraction - SAED) είναι μια κρυσταλλογραφική τεχνική στην διαπεραστική ηλεκτρονική μικροσκοπία που λαμβάνει μοτίβα περίθλασης ηλεκτρονίων από κρυσταλλικές περιοχές μεγέθους μικρομέτρου ή υπομικρομέτρου. Αναπτυγμένη από θεμελιώδεις αρχές της συμπεριφοράς των ηλεκτρονικών κυμάτων και ενσωματωμένη σε όργανα TEM στα μέσα του 20ου αιώνα, η SAED επιτρέπει την άμεση παρατήρηση του αντίστροφου χώρου, της κρυσταλλικής συμμετρίας και των δομών ατελειών με χωρική ανάλυση ανέφικτη για την περίθλαση ακτίνων Χ. Είναι απαραίτητη για τη μελέτη της τοπικής κρυσταλλικής δομής, την αναγνώριση φάσεων και τον χαρακτηρισμό νανοϋλικών.
Διαβάστε ολόκληρη τη μέθοδο
Συνδεθείτε με δωρεάν λογαριασμό για να διαβάσετε αυτή την ενότητα.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Πηγές
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
Πώς να παραπέμψετε σε αυτή τη σελίδα
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/el/materials-science/selected-area-electron-diffraction
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Μικροσκοπία Ατομικής ΔύναμηςΕπιστήμη Υλικών↔ compare
- Φασματοσκοπία Ακτίνων Χ Διασποράς ΕνέργειαςΕπιστήμη Υλικών↔ compare
- Ανάταξη Rietveld με περίθλαση ακτίνων Χ (XRD)Επιστήμη Υλικών↔ compare
Αναφέρεται από
Εντοπίσατε πρόβλημα σε αυτή τη σελίδα; Αναφέρετέ το ή προτείνετε διόρθωση →