Μικροσκοπία Ατομικής Δύναμης
Η Μικροσκοπία Ατομικής Δύναμης (AFM) είναι μια τεχνική σαρωτικής ακίδας που μετρά τοπογραφία επιφανειών και μηχανικές ιδιότητες σε νανοκλίμακα, παρακολουθώντας τις αλληλεπιδράσεις μεταξύ μιας αιχμηρής ακίδας προβόλου και της επιφάνειας του δείγματος. Επινοήθηκε από τον Gerd Binnig το 1986 ως επέκταση της μικροσκοπίας σήραγγας σάρωσης, η AFM δεν απαιτεί ούτε ηλεκτρική αγωγιμότητα ούτε λειτουργία σε κενό, καθιστώντας την εφαρμόσιμη σε σχεδόν οποιοδήποτε υλικό. Παρέχει τρισδιάστατους τοπογραφικούς χάρτες με κάθετη ανάλυση υπο-νανομέτρου και πλευρική ανάλυση που προσεγγίζει τα νανόμετρα, μαζί με ταυτόχρονες μετρήσεις μηχανικών, ηλεκτρικών και χημικών ιδιοτήτων.
Διαβάστε ολόκληρη τη μέθοδο
Συνδεθείτε με δωρεάν λογαριασμό για να διαβάσετε αυτή την ενότητα.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Πηγές
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
Πώς να παραπέμψετε σε αυτή τη σελίδα
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/el/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Φασματοσκοπία Ακτίνων Χ Διασποράς ΕνέργειαςΕπιστήμη Υλικών↔ compare
- ΝανοεπανακοπήΕπιστήμη Υλικών↔ compare
- Ηλεκτρονική Περίθλαση Επιλεγμένης ΠεριοχήςΕπιστήμη Υλικών↔ compare
Αναφέρεται από
Εντοπίσατε πρόβλημα σε αυτή τη σελίδα; Αναφέρετέ το ή προτείνετε διόρθωση →