Ανάταξη Rietveld με περίθλαση ακτίνων Χ (XRD)
Η Ανάταξη Rietveld με περίθλαση ακτίνων Χ (XRD) είναι μια μέθοδος εξαγωγής λεπτομερών πληροφοριών κρυσταλλικής δομής από δεδομένα περίθλασης σε μορφή σκόνης, μέσω σύγκρισης παρατηρούμενων και υπολογιζόμενων προτύπων περίθλασης μέσω ελαχίστων τετραγώνων. Αναπτυγμένη από τον Hugo Rietveld το 1969, αυτή η τεχνική επιτρέπει τον προσδιορισμό ατομικών θέσεων, πληρότητας θέσεων, θερμικών παραμέτρων και κλασμάτων φάσης απευθείας από δεδομένα σκόνης, χωρίς την ανάγκη μονοκρύσταλλων. Αποτελεί την καθιερωμένη προσέγγιση στην χαρακτηρολόγηση υλικών για δομική ανάλυση, αναγνώριση φάσης και ποσοτικοποίηση.
Διαβάστε ολόκληρη τη μέθοδο
Συνδεθείτε με δωρεάν λογαριασμό για να διαβάσετε αυτή την ενότητα.
Χάρτης μεθόδων
Η γειτονιά των σχετιζόμενων μεθόδων — επιλέξτε έναν κόμβο για εξερεύνηση.
Πηγές
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
Πώς να παραπέμψετε σε αυτή τη σελίδα
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/el/materials-science/xrd-rietveld-refinement
Ποια μέθοδος;
Τοποθετήστε αυτή τη μέθοδο δίπλα στις πιο συγγενείς της και διαβάστε τις παράλληλα — η βιβλιοθήκη απλώνει τα βιβλία στο τραπέζι· η επιλογή είναι δική σας.
- CALPHADΕπιστήμη Υλικών↔ σύγκριση
- Ηλεκτρονική Περίθλαση Επιλεγμένης ΠεριοχήςΕπιστήμη Υλικών↔ σύγκριση
- Φασματοσκοπία Φωτοηλεκτρονίων Ακτίνων-ΧΕπιστήμη Υλικών↔ σύγκριση
Αναφέρεται από
Εντοπίσατε πρόβλημα σε αυτή τη σελίδα; Αναφέρετέ το ή προτείνετε διόρθωση →