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Hypothesis testPanel unit-root tests (2nd gen)

PANIC-Test: Panel-Einheitswurzelanalyse mit gemeinsamer Faktordekomposition

PANIC (Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components) ist ein Panel-Einheitswurzeltest der zweiten Generation, der von Bai und Ng (2004) eingeführt wurde. Er zerlegt jede Panel-Reihe in gemeinsame Faktoren und idiosynkratische Komponenten und testet dann jede Komponente separat auf Einheitswurzeln. Dies macht ihn robust gegenüber Kreuzsektionsabhängigkeit – einer kritischen Einschränkung von Tests der ersten Generation wie IPS oder LLC.

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PANIC-Test: Panel-Einheitswurzelanalyse mit gemeinsamer Faktordekomposition
Kreuzsektional erweitete…CIPS-Test – Querschnitts…Dynamisches Faktormodell

Quellen

  1. Bai, J., & Ng, S. (2004). A PANIC attack on unit roots and cointegration. Econometrica, 72(4), 1127–1177. DOI: 10.1111/j.1468-0262.2004.00528.x

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ScholarGate. (2026, June 2). PANIC: Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components. ScholarGate. https://scholargate.app/de/econometrics/panic-test

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ScholarGatePANIC (PANIC: Panel Analysis of Non-stationarity in Idiosyncratic and Common Components). Abgerufen am 2026-06-15 von https://scholargate.app/de/econometrics/panic-test · Datensatz: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026