EXAFS

Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) er en synkrotron-baseret røntgenspektroskopisk teknik, der måler den lokale geometriske og elektroniske struktur omkring et specifikt atom i ethvert materiale, krystallinsk eller amorft. Opdaget af Sayers, Stern og Lytle i 1971, afslører EXAFS interatomare afstande, koordinationsnumre og uorden i det atomare miljø ved at analysere oscillationer i røntgenabsorptionsspektret over en absorptionskant. Når en røntgenfoton absorberes af en kernen-elektron i et atom, spredes den udgående bølge fra fotoelektronen af nabostoffer. Disse spredte bølger interfererer med den udgående bølge og skaber oscillationer (udsving) i røntgenabsorptionskoefficienten over absorptionskanten. Frekvensen og amplituden af disse oscillationer afhænger af afstandene, koordinationsnumrene og typerne af nabostoffer. Ved at analysere oscillationerne udtrækkes en radial fordelingsfunktion, der viser, hvor mange atomer der er ved hver afstand fra det centrale atom.