SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) er en ikke-parametrisk metode til at detektere differential item functioning (DIF) og differential test functioning (DTF), udviklet af Shealy og Stout (1993). I modsætning til parametriske tilgange antager SIBTEST ikke en bestemt item response-model og tester direkte, om grupper adskiller sig i deres sandsynlighed for korrekte svar ved lige niveauer af overordnet evne.
Læs hele metoden
Log ind med en gratis konto for at læse dette afsnit.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
Sådan citerer du denne side
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/da/psychometrics/sibtest
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Kognitiv diagnostisk computerbaseret adaptiv testningPsykometri↔ compare
- DINA-modellenPsykometri↔ compare
- DINO-modellenPsykometri↔ compare
- Necessary Condition AnalysisPsykometri↔ compare
- Rule Space MethodologyPsykometri↔ compare
Har du fundet en fejl på denne side? Indberet den eller foreslå en rettelse →