Automatické generování testovacích vzorů

Automatické generování testovacích vzorů (ATPG) je automatizované vytváření testovacích vektorů, které detekují výrobní vady v digitálních obvodech. ATPG, jehož průkopníkem byl Roth v roce 1966, systematicky vyhledává vstupy, které způsobují, že se chyby typu „stuck-at“ stanou pozorovatelnými na výstupech, což umožňuje komplexní detekci chyb. ATPG je kriticky důležité pro výrobu polovodičů: zajištění vysokého pokrytí testů zaručuje, že se expedují pouze dobré čipy, a identifikuje problémy ve výrobním procesu.