Generació Automàtica de Patrons de Prova
La Generació Automàtica de Patrons de Prova (ATPG) és la creació automatitzada de vectors de prova que detecten defectes de fabricació en circuits digitals. Pionera per Roth el 1966, l'ATPG troba sistemàticament entrades que fan observables els faults stuck-at en les sortides, permetent una detecció exhaustiva de faults. L'ATPG és crucial per a la fabricació de semiconductors: aconseguir una alta cobertura de faults garanteix que només s'enviïn xips bons i identifica problemes en el procés de fabricació.
Llegeix el mètode complet
Inicia la sessió amb un compte gratuït per llegir aquesta secció.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Fonts
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Com citar aquesta pàgina
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/ca/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Síntesi lògicaEnginyeria elèctrica↔ compare
- Variació de Procés Monte CarloEnginyeria elèctrica↔ compare
- Anàlisi Estàtica de TempsEnginyeria elèctrica↔ compare
Citat per
Has vist cap problema en aquesta pàgina? Informa'n o suggereix una correcció →