Prova CIPS — Test de Raíz Unitaria de Panel Aumentado Transversalmente IPS
La prova CIPS, introduïda per Pesaran (2007), és una prova de raíz unitària de panel de segona generació dissenyada per a panels en els quals les unitats transversals comparteixen factors comuns no observats que indueixen dependència transversal. Augmentant cada regressió ADF individual amb mitjanes transversals i els seus retards, la prova CIPS té en compte aquesta dependència i produeix inferències fiables on les proves de primera generació com la prova IPS original fallen. S'aplica àmpliament en panels macroeconòmics i financers on els xocs es propaguen entre països o regions.
Llegeix el mètode complet
Inicia la sessió amb un compte gratuït per llegir aquesta secció.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Fonts
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
Com citar aquesta pàgina
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/ca/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Test de Dickey-Fuller Augmentat Transversalment (CADF)Econometria↔ compare
- Test de raig unitari de panell Im-Pesaran-Shin (IPS)Econometria↔ compare
- PANICEconometria↔ compare
Citat per
Has vist cap problema en aquesta pàgina? Informa'n o suggereix una correcció →