Scholar
Gate
Assistent
Tots els àmbits
▾
CA ▾
Quant a
Reference
Pregunta i disseny
Mostreig i mesurament
Anàlisi
Causalitat i evidència
Difusió i ètica
Inici
/
Autor
Kapetanios, Shin, and Snell
Mètodes atribuïts a aquest autor.
1 mètode
Econometria
1
Nonlinear ADF Unit Root Test
2003