Рентгенофотоелектронна спектроскопия
Рентгенофотоелектронна спектроскопия (XPS), известна още като електронна спектроскопия за химически анализ (ESCA), е чувствителна към повърхността аналитична техника, която измерва кинетичните енергии на фотоелектроните, излъчени от материал чрез високоенергийни рентгенови лъчи. Разработена от Кай Сигбан през 1967 г., XPS определя елементния състав, химичните степени на окисление и химичните връзки в рамките на ~10 нанометра от повърхността. Тя е незаменима в материалознанието за характеризиране на повърхността, изследвания на корозията, анализ на оксиди и химия на интерфейсите.
Прочетете целия метод
Влезте с безплатен профил, за да прочетете този раздел.
Карта на методите
Обкръжението на сродните методи — изберете възел, за да го разгледате.
Източници
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Как да цитирате тази страница
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/bg/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Кой метод?
Поставете този метод до най-близките му сродни методи и ги четете едно до друго — библиотеката полага книгите на масата; изборът е ваш.
- Енергийно-дисперсионна рентгенова спектроскопияМатериалознание↔ сравняване
- Раманова деконволюцияМатериалознание↔ сравняване
- Селективна електронна дифракция в област (SAED)Материалознание↔ сравняване
Цитиран в
Similar methods
Забелязахте ли проблем на тази страница? Съобщете или предложете поправка →