Атомно-силова микроскопия
Атомно-силовата микроскопия (АСМ) е техника на сканираща сонда, която измерва повърхностна топография и механични свойства в наномащаб чрез наблюдение на взаимодействията между остър връх на конзола и повърхността на образеца. Изобретена от Герд Бининг през 1986 г. като разширение на сканиращата тунелна микроскопия, АСМ не изисква нито електрическа проводимост, нито работа във вакуум, което я прави приложима към почти всеки материал. Тя предоставя триизмерни топографски карти с вертикална резолюция под нанометър и странична резолюция, достигаща нанометри, заедно със симултанни измервания на механични, електрически и химични свойства.
Прочетете целия метод
Влезте с безплатен профил, за да прочетете този раздел.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Източници
- Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. (1986). Atomic force microscope. Physical Review Letters, 56(9), 930-933. DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.930 ↗
- Eaton, P., & West, P. (2005). Atomic Force Microscopy. Oxford University Press. link ↗
- Butt, H. J., Cappella, B., & Kappl, M. (2005). Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications. Surface Science Reports, 59(1-6), 1-152. DOI: 10.1016/j.surfrep.2005.08.003 ↗
Как да цитирате тази страница
ScholarGate. (2026, June 3). Atomic Force Microscopy (AFM). ScholarGate. https://scholargate.app/bg/materials-science/atomic-force-microscopy
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Енергийно-дисперсионна рентгенова спектроскопияМатериалознание↔ compare
- НаноиндентацияМатериалознание↔ compare
- Селективна електронна дифракция в област (SAED)Материалознание↔ compare
Цитиран в
Забелязахте ли проблем на тази страница? Съобщете или предложете поправка →