Селективна електронна дифракция в област (SAED)
Селективната електронна дифракция в област (SAED) е кристалографска техника в трансмисионната електронна микроскопия, която получава електрон-дифракционни картини от кристални области с размер от микрометри или подмикрометри. Разработена на базата на фундаментални принципи на поведението на електронните вълни и интегрирана в ТЕМ уредите до средата на 20-ти век, SAED позволява пряко наблюдение на обратното пространство, кристалната симетрия и дефектните структури с пространствена резолюция, недостижима за рентгеновата дифракция. Тя е от съществено значение за изучаване на локалната кристална структура, идентифициране на фази и характеризиране на наноматериали.
Прочетете целия метод
Влезте с безплатен профил, за да прочетете този раздел.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Източници
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
Как да цитирате тази страница
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/bg/materials-science/selected-area-electron-diffraction
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Атомно-силова микроскопияМатериалознание↔ compare
- Енергийно-дисперсионна рентгенова спектроскопияМатериалознание↔ compare
- Рентгенодифракционна Риетвелдова ректификацияМатериалознание↔ compare
Цитиран в
Забелязахте ли проблем на тази страница? Съобщете или предложете поправка →