ScholarGate
Асистент
Process / pipelineStatistical circuit analysis

Вариация на Монте Карло процесите

Анализът на вариацията на Монте Карло процесите количествено определя въздействието на производствените несигурности върху производителността на веригата чрез статистическо вземане на проби. С мащабирането на полупроводниковата технология, вариациите в процеса (дължина на гейта, дебелина на оксида, флуктуации на допиранта) създават значителни несигурности в закъснението, мощността и утечката. Методите на Монте Карло вземат проби от пространството на случайните вариации, което позволява статистическа характеристика на добива, времевите маржове и надеждността. От съществено значение за съвременните технологични възли.

Отворете в MethodMindСкороВидеоСкороDownload slides

Прочетете целия метод

Само за членове

Влезте с безплатен профил, за да прочетете този раздел.

Вход

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Източници

  1. Fishman, G. S. (1996). Monte Carlo: Concepts, Algorithms, and Applications. Springer-Verlag. DOI: 10.1007/978-1-4757-2553-7
  2. Nassif, S. R. (2003). Modeling and analysis of manufacturing variations. In Proc. CICC (pp. 223-228). IEEE. DOI: 10.1109/cicc.2001.929760
  3. Agarwal, A., Blaauw, D., Zolotov, V., & Sundareswaran, S. (2005). Statistical timing analysis with dual-Vth devices. IEEE Transactions on VLSI Systems, 13(3), 319-328. link

Как да цитирате тази страница

ScholarGate. (2026, June 3). Monte Carlo Analysis of Semiconductor Process Variations. ScholarGate. https://scholargate.app/bg/electrical-engineering/monte-carlo-process-variation

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Цитиран в

ScholarGateMonte Carlo Process Variation (Monte Carlo Analysis of Semiconductor Process Variations). Извлечено на 2026-06-15 от https://scholargate.app/bg/electrical-engineering/monte-carlo-process-variation · Набор от данни: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026