Автоматично генериране на тестови вектори
Автоматичното генериране на тестови вектори (ATPG) е автоматизираното създаване на тестови вектори, които откриват производствени дефекти в цифрови схеми. Пионер в тази област е Рот през 1966 г., като ATPG систематично намира входни сигнали, които правят дефектите тип „заседнал“ (stuck-at faults) наблюдаеми на изходите, което позволява цялостно откриване на дефекти. ATPG е от решаващо значение за производството на полупроводници: постигането на високо покритие на тестовете гарантира, че се доставят само работещи чипове и идентифицира проблеми в производствения процес.
Прочетете целия метод
Влезте с безплатен профил, за да прочетете този раздел.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Източници
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Как да цитирате тази страница
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/bg/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Логически синтезЕлектротехника↔ compare
- Вариация на Монте Карло процеситеЕлектротехника↔ compare
- Статичен времеви анализЕлектротехника↔ compare
Цитиран в
Забелязахте ли проблем на тази страница? Съобщете или предложете поправка →