Process / pipelineDigital circuit testing

توليد أنماط الاختبار الآلي

توليد أنماط الاختبار الآلي (ATPG) هو الإنشاء الآلي لمتجهات الاختبار التي تكشف عن عيوب التصنيع في الدوائر الرقمية. تم تأسيس ATPG بواسطة روث في عام 1966، ويقوم ATPG بشكل منهجي بإيجاد المدخلات التي تجعل أعطال التوقف (stuck-at faults) قابلة للملاحظة عند المخرجات، مما يتيح الكشف الشامل عن الأعطال. يعتبر ATPG حاسمًا لتصنيع أشباه الموصلات: حيث يضمن الوصول إلى تغطية اختبار عالية شحن الرقائق السليمة فقط وتحديد مشكلات عملية التصنيع.

افتح في MethodMindقريبًافيديوقريبًاDownload slides

اقرأ الطريقة كاملة

للأعضاء فقط

سجّل الدخول بحساب مجاني لقراءة هذا القسم.

تسجيل الدخول

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

المصادر

  1. Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link
  2. Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278
  3. Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link

كيف تستشهد بهذه الصفحة

ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/ar/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

يُستشهد بها في

ScholarGateAutomatic Test Pattern Generation (Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits). استُرجع بتاريخ 2026-06-15 من https://scholargate.app/ar/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation · مجموعة البيانات: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026