Process / pipelineMeasurement
干涉图条纹分析
干涉图条纹分析是一种计算方法学，用于从光学系统中记录的干涉条纹图案中提取定量信息。该方法根植于托马斯·杨1801年的双缝实验，并在20世纪的计量学中得到形式化，它通过解释相长和相消干涉的空间图案来高精度地测量表面形貌、光学像差、折射率分布和其他光学特性。
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来源
- Malacara, D. (Ed.). (2007). Optical Shop Testing (3rd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Huntley, J. M. (1989). Automatic fringe pattern analysis: a review. Optics & Lasers in Engineering, 11(2-3), 243-266. link ↗
- Wyant, J. C. (1996). White light interferometry. Proceedings of the International Society for Optical Engineering, 2873, 98-107. link ↗
如何引用本页
ScholarGate. (2026, June 3). Interferogram Fringe Analysis. ScholarGate. https://scholargate.app/zh/optics/interferogram-fringe-analysis
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